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肖特(SCHOTT)光伏组件通过PID测试

浏览次数: 日期:2011年9月26日 16:46

  9月5号,德国肖特太阳能(SCHOTT Solar)股份公司宣布已开发一种测试体系,可测量潜在性能衰退效应(PID)。公司称其玻璃箔膜组件在该效应中的性能衰退程度不到5%。

  肖特太阳能宣称,从测试结果来看,该公司生产的组件属于抗PID型。该公司与众多光伏生产商和研究机构共同开发了这种PID测试。

  肖特太阳能开发部部长Klaus Wangemann解释说:“开发这种PID测试是为了让客户确保安装在他们屋顶上的组件已经得到质量监测。作为组件质量的领跑者,我们以良好的声誉作质量上的担保。”

  PID效应是一种因高强度负电压不断通过而使组件性能降低的现象。肖特太阳能报告说,德国的两家公司Q-Cells SE和Solon SE也通过了此项PID测试。然而,该公司也提到了其他光伏生产商的一些光伏组件在测试中的性能衰退率达到了50%。至于这些生产商的名字,报告并未透露。

  在测试中,来自现有生产系列的组件被连接到1000伏特的电压上,时间为7天。为获得更精准的比较值,组件覆盖了一层铝箔,且测试环境为25摄氏度的恒温。

  通过测试的组件会失去不到5%的额定容量(nominal capacity)。肖特太阳能计划将进一步改进该测试,并与国际光伏标准体系(IEC TC82 standardization body)合作,以便在该领域的组件性能上拥有发言权。

  其他参与PID测试的合作伙伴有:弗劳恩霍夫太阳能系统研究所(The Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems)、光伏学会柏林股份公司(the Photovoltaic Institute Berlin AG)、以及德国的两家名为TÜV Rheinland Energie und Umwelt GmbH (Köln, Germany)、 VDE Prüf- und Zertifizierungsinstitut的公司。

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